DRK真空衰減法無損微泄露密封性測(cè)試儀的詳細(xì)資料:
DRK 真空衰減法無損微泄露密封性測(cè)試儀,儀器適用標(biāo)準(zhǔn)如下:ASTM F2338使用真空衰變法無損檢驗(yàn)包裝密性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法、SP1207美國(guó)藥典標(biāo)準(zhǔn)。
DRK 真空衰減法無損微泄露密封性測(cè)試儀,*符合 FASTM F2338-09標(biāo)準(zhǔn)和USP40-1207法規(guī)要求,基于雙傳感器技術(shù),雙循環(huán)系統(tǒng)的真空衰減法原理。將微泄漏密封性測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來容納需要被測(cè)試的包裝物的測(cè)試腔內(nèi)。儀器對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空,包裝物內(nèi)外形成壓力差,在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過漏孔擴(kuò)散至測(cè)試腔內(nèi),雙傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系,與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較,判斷試樣是否泄漏。
產(chǎn)品參數(shù):
真空度:0--100kPa
檢測(cè)靈敏度:1-3um
測(cè)試時(shí)間:30s
設(shè)備操作:自帶HM1
內(nèi)部壓力:常壓
測(cè)試系統(tǒng):雙傳感器技術(shù)
真空來源:外接真空泵
測(cè)試腔:根據(jù)樣品定做
適用產(chǎn)品:西林瓶、安瓿瓶、預(yù)灌封(及其他合適樣品)
檢測(cè)原理:真空衰減法/無損檢測(cè)
主機(jī)尺寸:550mmx330mm320mm(長(zhǎng)寬高)
重量:20 Kg
環(huán)境溫度:20℃-30℃
儀器配置
配:主機(jī)、真空泵、微型打印機(jī)、觸摸液晶屏,測(cè)試腔
注:因技術(shù)進(jìn)步更改資料,恕不另行通知,產(chǎn)品以后期實(shí)物為準(zhǔn)。
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